CTSD精密ADC—第3部分：实现固有混叠抑制( 五 ) 在CTSD精密ADC系列文章的第3部分

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图11.混叠抑制与带外频率
我们在本文中所阐述的CTSD ADC概念有助于信号链设计人员了解此架构的电阻输入、电阻基准和固有混叠抑制特性。一个易于驱动的输入和基准电压源，以及CTSD ADC信号链中无需AAF设计，这些共同造就了适合各种应用的新型简化ADC前端设计。请阅读本系列文章的下一部分，了解有关这些简化的精密信号链设计的更多信息！
参考电路
抗混叠滤波器设计工具
滤波器设计教程
Kawle, Abhilasha and Wasim Shaikh 。“CTSD精密ADC — 第1部分：如何改进精密ADC信号链设计时间。” 模拟对话，第55卷第1期， 2021年2月。
Kawle, Abhilasha 。“CTSD精密ADC — 第2部分：为信号链设计人员介绍CTSD架构。” 模拟对话，第55卷第1期， 2021年3月。
Kester, Walt 。“MT-002：奈奎斯特准则对数据采样系统设计有何意义。”ADI公司， 2009年。
致谢
作者在此向芯片评估工程师Sanjay Kuna和高级测试开发工程师Richard Escoto致以诚挚谢意，感谢他们为测试和验证固有混叠抑制所付出的努力。
作者

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Smita Choudhury
Smita Choudhury是ADI公司线性和精密技术部设计评估经理，工作地点位于印度班加罗尔。她拥有VLSI设计和嵌入式系统硕士学位，自2012年以来一直在ADI工作。

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AbhilashaKawle
AbhilashaKawle是ADI公司线性和精密技术部模拟设计经理，工作地点位于印度班加罗尔。她于2007年毕业于班加罗尔印度科学理工学院，获电子设计和技术硕士学位。
【CTSD精密ADC—第3部分：实现固有混叠抑制】来源：电子工程世界