CTSD精密ADC—第3部分:实现固有混叠抑制( 四 )
NTF类似于高通滤波器 , STF类似于低通滤波器 , 在目标频段内具有平坦的0 dB幅度 , 在高频率下的衰减与AAF TF相当 。从数学角度来看 , 信号通过具有高增益的低通滤波器配置H(f) , 然后由NTF环路处理 。现在 , 在理解了NTF框图之后 , 可以进一步深化了解带有采样器的环路 。
第2步:NTF的框图
当输入VIN设置为0 V时 , 调制器环路框图可以如图8a所示重新排列 , 用于表示NTF 。环路中包含采样器时 , NTF响应与线性模型类似 , 但在fs的倍数位置都会显示复制图像 , 如图8b所示 。
第3步:重新布局调制器环路 , 以直观显示前置滤波操作
如果将环路滤波器H(f)和调制器环路的采样器移动到输入端 , 且反馈如图9所示 , 那么输入到输出的传递函数不会发生改变 。重新布局后的框图右侧表示NTF 。
与第1步中的线性模型类似 , 在采样等效系统中 , 输入信号经过高增益H(f) , 然后通过NTF环路进行采样和处理 。信号通过环路滤波器之后的横向部分 , 会在进行采样之前 , 构成低通滤波器配置 。这种配置导致产生CTSD调制器的固有混叠抑制 。因此 , CTSD调制器环路的STF如图9所示 。
第4步:使用一个数字滤波器完成STF
为了减少多余的高频信息 , CTSD调制器与片内数字抽取滤波器配合使用 , 组合混叠抑制TF如图10所示 。fs附近的混叠利用CTSD的固有混叠抑制特性进行衰减 , 中间干扰源则由数字滤波器衰减 。
图4比较了SAR ADC、DTSD ADC和CTSD ADC在采样频率和输入信号带宽下实现–80 dB混叠抑制时所需的AAF阶数 。使用SAR ADC时 , AFF的阶数最高 , 所以复杂性也最高 , CTSD ADC则不需要使用外部AAF , 因为其设计本身具有混叠抑制性能 。
利用CTSD架构实现信号链的优势
在声纳波束成型和振动分析等某些多通道应用中 , 通道间的相位信息非常重要 。例如 , 通道间的相位需要精确匹配 , 在20 kHz时达到0.05°的精度 。
对于传统的ADC信号链 , AAF设计中采用无源RC和运算放大器 。滤波器会导致带内出现一定的幅度和相位下降 , 下降比例为转角频率的函数 。为了实现良好的通道间相位匹配 , 所有通道需要具有相同的下降幅度 , 这表明需要对每个通道的滤波器转角频率进行精细控制和匹配 。设计用于在16 MHz(采样频率)以及160 kHz f3dB(输入带宽)下实现–80 dB抑制的二阶巴特沃兹滤波器 , 在20 kHz时可能存在±0.15°的相位失配 , 且误差公差可能低至RC绝对值的1% 。可用的较小误差容限RC无源器件有限 , 且会增加物料成本(BOM) 。
由于CTSD ADC信号链中无需使用AAF , 因此在目标频段内自然可以实现通道间幅度和相位匹配 。相位失配受到模拟调制器环路设计的片内失配限制 , 在20 kHz时可低至±0.02° 。
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图10.带有后端数字滤波器的CTSD调制器环路
测量和量化固有混叠抑制
AD4134是一款基于CTSD ADC架构的精密ADC , 其数据手册中介绍了用于测量混叠抑制的新功能检查 。对ADC的模拟输入信号频率进行扫描 , 并通过测量测试频率信号音相对于所用信号音的折叠幅度(如果有)来计算每个带外输入信号的影响 。
图11显示性能带宽为160 kHz、采样频率为24 MHz时 , AD4134对带外频率的混叠抑制性能 。对于23.84 MHz (fs – 160 kHz)频率 , 混叠抑制为–85 dB , 这是ADC的混叠抑制技术规格 。从图中还可以看出 , 对于其他中间频率 , 混叠抑制高于–100 dB 。有关固有混叠抑制的更多详情 , 以及可进一步提高这种抑制性能的选项 , 请参见AD4134数据手册 。
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